图8

非参数Kruskal-Wallis (KW)分析按染色体位置顺序排列的与角质层相关性状相关的遗传标记，包括角质层厚度(角质层深度=角质层厚度;面板一个)和果实表面角质层覆盖率(cuticle % =角质层覆盖率;面板B和C分别用于父映射和母映射)。KW评分> 7.8 =p< 0.005，位于虚线上方。所测性状的表型统计汇总如下